谢乐公式:谢乐公式得到的是晶粒尺寸还是聚集体的尺寸

谢乐公式:谢乐公式得到的是晶粒尺寸还是聚集体的尺寸

目录1.谢乐公式得到的是晶粒尺寸还是聚集体的尺寸2.如何用谢乐公式计算粒径3.谢乐公式计算的D 是粒径么?和Scherrer公式中的d 关系?4.谢乐公式是在什么公式基础上得到的 高分子研究方法5.XRD中有四方相和单斜相氧化锆,请问可以用谢乐公式分别求出四方相颗粒和单斜相颗粒的大小吗?怎么求解?6.谢乐公式计算的D 是粒径么7.用origin怎么知道xrd图的半峰宽,以便用谢乐公式计算粒径?1.谢乐公式得到的是晶粒尺寸还是聚集体的尺寸自动用谢乐公式计算晶粒尺寸,可把三强峰的晶粒尺寸都算一下,然后获得平均值。2.如何用谢乐公式计算粒径B为衍射峰半高宽,θ 为衍射角) 双线法(Williams-Hall)测定金属晶体中的微观应力 晶块尺寸小于0.1μm,且有不均匀应变时衍射线宽化。可用谢乐方程或Hall法作定量计算。1 衍射线宽化的原因 用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化和试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变(微观应变)和堆积层错(在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴)。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。2 谢乐方程 若假设试样中没有晶体结构的不完整引起的宽化,则衍射线的宽化仅是由晶块尺寸造成的,而且晶块尺寸是均匀的,式中Size表示晶块尺寸(nm),K为常数,λ是X射线的波长(nm),FW(S)是试样宽化(Rad),θ则是衍射角(Rad)。计算晶块尺寸时,一般采用低角度的衍射线,可用较高衍射角的衍射线来代替。3 微观应变引起的线形宽化 如果存在微观应力,衍射峰的加宽表示为:式中Strain表示微观应变,它是应变量对面间距的比值,4 Hall方法 测量二个以上的衍射峰的半高宽FW(S),由于晶块尺寸与晶面指数有关,所以要选择同一方向衍射面,用最小二乘法作直线拟合,直线的斜率为微观应变的两倍,直线在纵坐标上的截距即为晶块尺寸的倒数。5 半高宽、样品宽化和仪器宽化 样品的衍射峰加宽可以用半高宽来表示。3.谢乐公式计算的D 是粒径么?和Scherrer公式中的d 关系?1、D是颗粒直径,谢乐公式是根据峰的展宽程度来计算颗粒大小的;4.谢乐公式是在什么公式基础上得到的 高分子研究方法谢乐公式:(K为Scherrer常数、D为晶粒垂直于晶面方向的平均厚度、B为实测样品衍射峰半高宽度、θ为衍射角、γ为X射线波长,K可以查得到。5.XRD中有四方相和单斜相氧化锆,请问可以用谢乐公式分别求出四方相颗粒和单斜相颗粒的大小吗?怎么求解?谢乐公式:(K为Scherrer常数、D为晶粒垂直于晶面方向的平均厚度、B为实测样品衍射峰半高宽度、θ为衍射角、γ为X射线波长,为0.154056 nm)。K可以查得到,直接将上述参数代入公式,即可以计算出晶粒的厚度。6.谢乐公式计算的D 是粒径么1、 D是 颗粒直径,谢乐公式 是根据峰的展宽程度来 计算 颗粒大小的;7.用origin怎么知道xrd图的半峰宽,以便用谢乐公式计算粒径?对谱线进行拟合就行了(希望能帮到你。
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